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| Bild | Produktnummer | Preis (USD) | Menge | ECAD | Verfügbare Menge | Gewicht (kg) | Hersteller | Serie | Paket | Produktstatus | Montageart | Paket/Koffer | Basisproduktnummer | Technologie | Gerätepaket des Lieferanten | Datenblatt | RoHS-Status | Feuchtigkeitsempfindlichkeitsniveau (MSL) | REACH-Status | Andere Namen | ECCN | HTSUS | Standardpaket | Geschwindigkeit | Diodenkonfiguration | Spannung – DC-Rückwärtsgang (Vr) (max.) | Strom – Durchschnittlich gleichgerichtet (Io) (pro Diode) | Spannung – Vorwärts (Vf) (Max) @ If | Reverse Recovery Time (trr) | Strom – Rückwärtsleckage bei Vr | Betriebstemperatur – Verbindungsstelle | Strom – Durchschnittlich gleichgerichtet (Io) | Kapazität @ Vr, F |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() | WB100FC120ALZ | 2.5754 | ![]() | 3492 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Schüttgut | Aktiv | Oberflächenmontage | Sterben | WB100 | Standard | Wafer | - | EAR99 | 8541.10.0080 | 1 | Schnelle Wiederherstellung =< 500 ns, >200mA (Io) | 1200 V | 3,3 V bei 100 A | 90 ns | 250 µA bei 1200 V | 175°C | 100A | - | |||||||
![]() | OF4487J | 0,3300 | ![]() | 9969 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | * | Tape & Reel (TR) | Aktiv | OF4487 | - | 1 (Unbegrenzt) | 2.500 | ||||||||||||||||||||
| BYT28X-500Q | 0,3767 | ![]() | 4290 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Schüttgut | Aktiv | Durchgangsloch | TO-220-3 Vollpackung, isolierte Registerkarte | BYT28 | Standard | TO-220F | herunterladen | EAR99 | 8541.10.0080 | 1.000 | Schnelle Wiederherstellung =< 500 ns, >200mA (Io) | 1 Paar gemeinsame Kathode | 500 V | 10A | 1,4 V bei 5 A | 60 ns | 10 µA bei 500 V | 150°C | ||||||||
![]() | BYR29X-800PQ | 0,3630 | ![]() | 3455 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Rohr | Aktiv | Durchgangsloch | TO-220-2 Vollpackung, isolierte Lasche | BYR29 | Standard | TO-220FP | herunterladen | 1 (Unbegrenzt) | 934069882127 | EAR99 | 8541.10.0080 | 1.000 | Schnelle Wiederherstellung =< 500 ns, >200mA (Io) | 800 V | 1,7 V bei 8 A | 55 ns | 10 µA bei 800 V | 175 °C (max.) | 8A | - | |||||
![]() | BYV29X-600AQ | 0,9800 | ![]() | 12 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Rohr | Aktiv | Durchgangsloch | TO-220-2 Vollpackung, isolierte Lasche | BYV29 | TO-220F | - | 1 (Unbegrenzt) | 934069808127 | EAR99 | 8541.10.0080 | 50 | ||||||||||||||
![]() | WNSC2D04650TJ | 1.5000 | ![]() | 14 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Tape & Reel (TR) | Aktiv | Oberflächenmontage | 4-VSFN freiliegendes Pad | WNSC2 | SiC (Siliziumkarbid) Schottky | 5-DFN (8x8) | herunterladen | RoHS-konform | 3 (168 Stunden) | EAR99 | 8541.10.0080 | 3.000 | Keine Erholungszeit > 500 mA (Io) | 650 V | 1,7 V bei 4 A | 0 ns | 20 µA bei 650 V | 175°C | 4A | 125pF bei 1V, 1MHz | |||||
![]() | BYR5D-1200PJ | 0,2888 | ![]() | 9366 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Tape & Reel (TR) | Aktiv | Oberflächenmontage | TO-252-3, DPak (2 Leitungen + Lasche), SC-63 | BYR5D | Standard | DPAK | herunterladen | RoHS-konform | 1 (Unbegrenzt) | 934072040118 | EAR99 | 8541.10.0080 | 2.500 | Schnelle Wiederherstellung =< 500 ns, >200mA (Io) | 1200 V | 2,2 V bei 5 A | 62 ns | 50 µA bei 1200 V | 175 °C (max.) | 5A | - | ||||
![]() | WNSC2D401200CW6Q | 6.9000 | ![]() | 9359 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Tape & Reel (TR) | Aktiv | Durchgangsloch | TO-247-3 | WNSC2 | SiC (Siliziumkarbid) Schottky | TO-247-3 | herunterladen | 1 (Unbegrenzt) | EAR99 | 8541.10.0080 | 600 | Keine Erholungszeit > 500 mA (Io) | 1 Paar gemeinsame Kathode | 1200 V | 40A | 1,8 V bei 20 A | 0 ns | 200 µA bei 2000 V | 175°C | ||||||
![]() | BYV30JT-600PQ | 2.0100 | ![]() | 3 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Rohr | Aktiv | Durchgangsloch | TO-3P-3, SC-65-3 | BYV30 | Standard | TO-3P | herunterladen | 1 (Unbegrenzt) | 934071201127 | EAR99 | 8541.10.0080 | 480 | Schnelle Wiederherstellung =< 500 ns, >200mA (Io) | 600 V | 1,8 V bei 30 A | 65 ns | 10 µA bei 600 V | 175 °C (max.) | 30A | - | |||||
| NXPSC04650Q | - | ![]() | 1767 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Rohr | Letzter Kauf | Durchgangsloch | TO-220-2 | NXPSC | SiC (Siliziumkarbid) Schottky | TO-220AC | herunterladen | 1 (Unbegrenzt) | EAR99 | 8541.10.0080 | 1.000 | Keine Erholungszeit > 500 mA (Io) | 650 V | 1,7 V bei 4 A | 0 ns | 170 µA bei 650 V | 175 °C (max.) | 4A | 130pF bei 1V, 1MHz | |||||||
![]() | NXPSC20650W-AQ | 6.1465 | ![]() | 9940 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Rohr | Letzter Kauf | Durchgangsloch | TO-247-3 | NXPSC | SiC (Siliziumkarbid) Schottky | TO-247-3 | herunterladen | RoHS-konform | 1 (Unbegrenzt) | EAR99 | 8541.10.0080 | 30 | Keine Erholungszeit > 500 mA (Io) | 1 Paar gemeinsame Kathode | 650 V | 20A | 1,7 V bei 10 A | 0 ns | 60 µA bei 650 V | 175 °C (max.) | |||||
![]() | MURS360BJ | 0,4600 | ![]() | 44 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Tape & Reel (TR) | Aktiv | Oberflächenmontage | DO-214AA, SMB | MURS3 | Standard | KMU | herunterladen | RoHS-konform | 1 (Unbegrenzt) | EAR99 | 8541.10.0080 | 3.000 | Schnelle Wiederherstellung =< 500 ns, >200mA (Io) | 600 V | 1,3 V bei 3 A | 50 ns | 3 µA bei 600 V | 175 °C (max.) | 3A | - | |||||
![]() | WNSC021200Q | 1.5147 | ![]() | 2967 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Rohr | Letzter Kauf | Durchgangsloch | TO-220-2 | WNSC0 | SiC (Siliziumkarbid) Schottky | TO-220AC | herunterladen | RoHS-konform | 1 (Unbegrenzt) | EAR99 | 8541.10.0080 | 1.000 | Keine Erholungszeit > 500 mA (Io) | 1200 V | 1,6 V bei 2 A | 0 ns | 20 µA bei 1200 V | 175 °C (max.) | 2A | 109pF bei 1V, 1MHz | |||||
| BYV410X-600/L01Q | 0,6979 | ![]() | 9126 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Schüttgut | Aktiv | Durchgangsloch | TO-220-3 Vollpackung, isolierte Registerkarte | BYV410 | Standard | TO-220F | herunterladen | EAR99 | 8541.10.0080 | 600 | Schnelle Wiederherstellung =< 500 ns, >200mA (Io) | 1 Paar gemeinsame Kathode | 600 V | 20A | 2,1 V bei 10 A | 35 ns | 50 µA bei 600 V | 150°C | ||||||||
![]() | WNSC6D01650MBJ | 1.6700 | ![]() | 9 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Tape & Reel (TR) | Aktiv | Oberflächenmontage | DO-214AA, SMB | WNSC6 | SiC (Siliziumkarbid) Schottky | KMU | herunterladen | 1 (Unbegrenzt) | EAR99 | 8541.10.0080 | 3.000 | Keine Erholungszeit > 500 mA (Io) | 650 V | 1,4 V bei 1 A | 0 ns | 20 µA bei 650 V | 175°C | 1A | 130pF bei 1V, 1MHz | ||||||
![]() | WNSC5D206506Q | - | ![]() | 6400 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Rohr | Aktiv | Durchgangsloch | TO-220-2 | WNSC5 | SiC (Siliziumkarbid) Schottky | TO-220AC | - | 1740-WNSC5D206506Q | EAR99 | 8541.10.0080 | 1 | Keine Erholungszeit > 500 mA (Io) | 650 V | 1,7 V bei 20 A | 0 ns | 100 µA bei 650 V | -55 °C ~ 175 °C | 20A | 640pF bei 1V, 1MHz | ||||||
| BYQ28ED-200.118 | 0,8500 | ![]() | 94 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Tape & Reel (TR) | Aktiv | Oberflächenmontage | TO-252-3, DPak (2 Leitungen + Lasche), SC-63 | BYQ28 | Standard | DPAK | herunterladen | RoHS-konform | 1 (Unbegrenzt) | EAR99 | 8541.10.0080 | 2.500 | Schnelle Wiederherstellung =< 500 ns, >200mA (Io) | 1 Paar gemeinsame Kathode | 200 V | 10A | 1,25 V bei 10 A | 25 ns | 10 µA bei 200 V | 150 °C (max.) | ||||||
![]() | NUR460P/L07U | - | ![]() | 2363 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Schüttgut | Veraltet | Durchgangsloch | DO-201AD, Axial | NUR460 | Standard | DO-201AD | herunterladen | 1 (Unbegrenzt) | REACH Unberührt | EAR99 | 8541.10.0080 | 500 | Schnelle Wiederherstellung =< 500 ns, >200mA (Io) | 600 V | 1,28 V bei 4 A | 75 ns | 10 µA bei 600 V | - | 4A | - | |||||
![]() | NXPSC10650XQ | - | ![]() | 9358 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Rohr | Letzter Kauf | Durchgangsloch | TO-220-2 Vollpackung, isolierte Lasche | NXPSC | SiC (Siliziumkarbid) Schottky | TO-220F | herunterladen | 1 (Unbegrenzt) | 934070014127 | EAR99 | 8541.10.0080 | 1.000 | Keine Erholungszeit > 500 mA (Io) | 650 V | 1,7 V bei 10 A | 0 ns | 250 µA bei 650 V | 175 °C (max.) | 10A | 300pF bei 1V, 1MHz | |||||
![]() | WND10P08YQ | 0,9500 | ![]() | 6 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Rohr | Aktiv | Durchgangsloch | TO-220-2 | WND10 | Standard | IITO-220-2 | herunterladen | 1 (Unbegrenzt) | EAR99 | 8541.10.0080 | 50 | Standardwiederherstellung >500 ns, > 200 mA (Io) | 800 V | 1,3 V bei 10 A | 10 µA bei 800 V | 150°C | 10A | - | |||||||
![]() | WN3S30H100CQ | 0,8900 | ![]() | 5 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Rohr | Aktiv | Durchgangsloch | TO-220-3 | WN3S30 | Schottky | TO-220AB | herunterladen | 1 (Unbegrenzt) | EAR99 | 8541.10.0080 | 50 | Schnelle Wiederherstellung =< 500 ns, >200mA (Io) | 1 Paar gemeinsame Kathode | 100 V | 15A | 710 mV bei 15 A | 50 µA bei 100 V | 150°C | |||||||
![]() | NXPSC046506Q | 2.6700 | ![]() | 20 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Rohr | Letzter Kauf | Durchgangsloch | TO-220-2 | NXPSC | SiC (Siliziumkarbid) Schottky | TO-220AC | herunterladen | 1 (Unbegrenzt) | 934072071127 | EAR99 | 8541.10.0080 | 50 | Keine Erholungszeit > 500 mA (Io) | 650 V | 1,7 V bei 4 A | 0 ns | 170 µA bei 650 V | 175 °C (max.) | 4A | 130pF bei 1V, 1MHz | |||||
![]() | BYV29F-600.127 | 0,4125 | ![]() | 7894 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Rohr | Aktiv | Durchgangsloch | TO-220-2 | BYV29 | Standard | TO-220AC | herunterladen | RoHS-konform | 1 (Unbegrenzt) | EAR99 | 8541.10.0080 | 50 | Schnelle Wiederherstellung =< 500 ns, >200mA (Io) | 600 V | 1,9 V bei 8 A | 35 ns | 50 µA bei 600 V | 150 °C (max.) | 9A | - | |||||
![]() | NXPSC06650D6J | 3.5800 | ![]() | 6 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Tape & Reel (TR) | Letzter Kauf | Oberflächenmontage | TO-252-3, DPak (2 Leitungen + Lasche), SC-63 | NXPSC | SiC (Siliziumkarbid) Schottky | DPAK | herunterladen | 1 (Unbegrenzt) | EAR99 | 8541.10.0080 | 2.500 | Keine Erholungszeit > 500 mA (Io) | 650 V | 1,7 V bei 6 A | 0 ns | 200 µA bei 650 V | 175 °C (max.) | 6A | 190pF bei 1V, 1MHz | ||||||
![]() | BYV40E-150.115 | 0,2970 | ![]() | 7460 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Tape & Reel (TR) | Aktiv | Oberflächenmontage | TO-261-4, TO-261AA | BYV40 | Standard | SC-73 | herunterladen | RoHS-konform | 1 (Unbegrenzt) | EAR99 | 8541.10.0080 | 1.000 | Schnelle Wiederherstellung =< 500 ns, >200mA (Io) | 1 Paar gemeinsame Kathode | 150 V | 1,5A | 1 V bei 1,5 A | 25 ns | 10 µA bei 150 V | 150 °C (max.) | |||||
| BYV10ED-600PJ | 0,8500 | ![]() | 6 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Tape & Reel (TR) | Aktiv | Oberflächenmontage | TO-252-3, DPak (2 Leitungen + Lasche), SC-63 | BYV10 | Standard | DPAK | herunterladen | RoHS-konform | 1 (Unbegrenzt) | EAR99 | 8541.10.0080 | 2.500 | Schnelle Wiederherstellung =< 500 ns, >200mA (Io) | 600 V | 2 V bei 10 A | 50 ns | 10 µA bei 600 V | 175 °C (max.) | 10A | - | ||||||
![]() | WND08P16DJ | 0,8800 | ![]() | 26 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Tape & Reel (TR) | Aktiv | Oberflächenmontage | TO-252-3, DPak (2 Leitungen + Lasche), SC-63 | WND08 | Standard | DPAK | herunterladen | RoHS-konform | 1 (Unbegrenzt) | EAR99 | 8541.10.0080 | 2.500 | Standardwiederherstellung >500 ns, > 200 mA (Io) | 1600 V | 1,25 V bei 8 A | 50 µA bei 1600 V | 150°C | 8A | - | ||||||
![]() | WND35P08XQ | 0,5480 | ![]() | 5262 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Schüttgut | Aktiv | Durchgangsloch | TO-220-2 Vollpackung, isolierte Lasche | WND35 | Standard | TO-220F | herunterladen | EAR99 | 8541.10.0080 | 1.000 | Standardwiederherstellung >500 ns, > 200 mA (Io) | 800 V | 1,4 V bei 35 A | 50 µA bei 1600 V | -40°C ~ 150°C | 35A | - | ||||||||
![]() | WN3S20H100CQ | 0,7000 | ![]() | 6 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Rohr | Aktiv | Durchgangsloch | TO-220-3 | WN3S20 | Schottky | TO-220AB | herunterladen | 1 (Unbegrenzt) | EAR99 | 8541.10.0080 | 50 | Schnelle Wiederherstellung =< 500 ns, >200mA (Io) | 1 Paar gemeinsame Kathode | 100 V | 10A | 750 mV bei 10 A | 50 µA bei 100 V | 150°C | |||||||
![]() | BYC40W-1200PQ | 1.8808 | ![]() | 1282 | 0,00000000 | WeEn Semiconductors | - | Schüttgut | Aktiv | Durchgangsloch | TO-247-2 | BYC40 | Standard | TO-247-2 | herunterladen | EAR99 | 8541.10.0080 | 450 | Schnelle Wiederherstellung =< 500 ns, >200mA (Io) | 1200 V | 3,3 V bei 40 A | 91 ns | 250 µA bei 1200 V | 175°C | 40A | - |

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